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主要论述单粒子效应对卫星中微电子器件的辐射损伤机理。提出提高集成电路抗单粒子翻转和单粒子闭锁的技术路径。
Abstract：The failure mechanism of microelectronic devices in sateliite influenced by single-event phenomena are discussed in this paper. The technology method for IC to overcome single-event upset and single-event latch-up is suggested.
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基本信息:
DOI：
中图分类号:V474,V417.3
引用信息:
[1]王长河.单粒子效应对卫星空间运行可靠性影响[J].半导体情报,1998(01).
基金信息: